Статьи +7 (495) 223-18-03
8-800-600-18-03

г. Москва
 
   Главная | Выставки | Статьи | Каталоги | Склад | Новости | Партнеры | Услуги | Контакты

Оборудование (по алфавиту)
Анализаторы катализаторов
Анализаторы волокон и порошков
Анализаторы пены KRUSS
Анализаторы полимеров
Анализаторы размера частиц
Биореакторы и ферментёры
Генераторы газов
Диспергаторы лабораторные
Испарители роторные
Калориметры (выделяемое тепло)
Камеры испытательные Liebisch
Камеры климатические CTS
Камеры низкотемпературные
Камеры роста растений
Клапаны Sitec
Колонны ректификационные
Лазерные конфокальные микроскопы
Мельницы лабораторные
Мешалки лабораторные
Насосы газовые (вакуумные)
Насосы жидкостные
Печи лабораторные
Планетарные смесители
Приборы для измерения краевого угла смачивания (KRUSS)
Реакторы химические
Реакторы металлические
Реакторы проточные
Реакторы стеклянные
Реометры порошков
Стерилизаторы паровые CertoClav
Сушки лабораторные
Тензиометры KRUSS
Теплообменники
Термостаты HUBER
Тестеры фармпрепаратов
Фильтры лабораторные
Флэш-хроматографы Teledyne
Центрифуги фильтрующие
Шкафы и инкубаторы Memmert
Шланги лабораторные
Эксикаторы и перчаточные боксы
Галерея реакторов и фильтров




mistakes



Лазерная конфокальная микроскопия

Статьи >> Лазерная конфокальная микроскопия
Контроль процессов полирования путем измерения шероховатости поверхности в соответствии с требованиями стандартов ISO 25178 ISO 4288
Контроль процессов полирования путем измерения шероховатости поверхности в соответствии с требованиями стандартов ISO 25178/ISO 4288

Для обеспечения заданного качества механической обработки деталей их шлифуют и полируют, чтобы достичь определенного значения шероховатости поверхности. Данный комплексный параметр играет определяющую роль в плане механических (трение, сопротивление потоку) и химико-физических (подверженность коррозии, смачиваемость, адгезия) свойств поверхностей деталей..

Подробнее...

Фармацевтика
Теория лазерной конфокальной микроскопии

Конфокальная микроскопия является подвидом обычной оптической микроскопии, но за счет применения диска с микролинзами происходит отсечение фонового света и получается информация только о конкретной точке поверхности, на основании этого впоследствии составляется «карта» этой поверхности.

Подробнее...

 Создание сайта — Вячеслав Курашенко
© 2008-2021 Tirit.org - ООО | Карта сайта