Статьи +7 (495) 223-18-03
8-800-600-18-03

г. Москва
 
   Главная | Решения | Статьи | Каталоги | Склад | Новости | Партнеры | Услуги | Контакты

Оборудование (по алфавиту)
Анализаторы катализаторов
Анализаторы волокон и порошков
Анализаторы металлов
Анализаторы пены KRUSS
Анализаторы полимеров
Анализаторы размера частиц
Биореакторы и ферментёры
Генераторы газов
Диспергаторы
Калориметры (выделяемое тепло)
Камеры испытательные Liebisch
Камеры климатические и шкафы
Камеры низкотемпературные
Камеры роста растений
Клапаны Sitec
Колонны ректификационные
Лабораторное стекло Lenz
Мельницы лабораторные
Мешалки лабораторные
Насосы газовые (вакуумные)
Насосы жидкостные
Печи лабораторные
Планетарные смесители
Приборы для измерения краевого угла смачивания (KRUSS)
Реакторы химические
Реакторы металлические
Реакторы проточные
Реакторы стеклянные
Реакторы тефлоновые
Реакторы высокого давления
Реометры порошков
Розлив и упаковка
Роторные испарители
Стерилизаторы паровые CertoClav
Сушки лабораторные
Тензиометры KRUSS
Теплообменники
Термостаты твердотельные
Термостаты жидкостные
Тестеры фармпрепаратов
Фильтры лабораторные
Флэш-хроматографы Teledyne
Центрифуги лабораторные
Шейкеры и вортексы
Шланги лабораторные
Эксикаторы и перчаточные боксы
Флексометры
Галерея реакторов и фильтров




mistakes



Лазерная конфокальная микроскопия

Статьи >> Лазерная конфокальная микроскопия
Контроль процессов полирования путем измерения шероховатости поверхности в соответствии с требованиями стандартов ISO 25178 ISO 4288
Контроль процессов полирования путем измерения шероховатости поверхности в соответствии с требованиями стандартов ISO 25178/ISO 4288

Для обеспечения заданного качества механической обработки деталей их шлифуют и полируют, чтобы достичь определенного значения шероховатости поверхности. Данный комплексный параметр играет определяющую роль в плане механических (трение, сопротивление потоку) и химико-физических (подверженность коррозии, смачиваемость, адгезия) свойств поверхностей деталей..

Подробнее...

Фармацевтика
Теория лазерной конфокальной микроскопии

Конфокальная микроскопия является подвидом обычной оптической микроскопии, но за счет применения диска с микролинзами происходит отсечение фонового света и получается информация только о конкретной точке поверхности, на основании этого впоследствии составляется «карта» этой поверхности.

Подробнее...

 Создание сайта — Вячеслав Курашенко
© 2008-2024 Tirit.org - ООО | Карта сайта.